【下载白皮书】Lint签核推进验证左移

?在芯片复杂度和规模不断攀升的今天，如何实现高效且可预测的设计收敛，已成为行业面临的重大挑战。本白皮书深入探讨如何通过早期静态验证——尤其是先进的 Lint 技术——加速设计周期，提升整体设计质量，助力企业抢占市场先机。

? 我们将重点介绍新思科技 VC SpyGlass Lint 如何帮助您在 RTL 阶段提前发现设计问题，避免后期高成本错误，确保产品更快上市。

阅读本白皮书，您将收获：
✅ 芯片设计中早期“验证左移”的优势
✅ Lint 作为静态验证首要步骤，在设计周期早期捕获 RTL 缺陷的作用
✅ 早期 Lint 检查如何提升后续阶段（如仿真和综合）的效率
✅ Lint 工具在检测不良编码风格方面的技术进步
✅ VC SpyGlass Lint 如何实现设计问题的早期发现，助力更顺畅、更快速的设计流程