五十多年来，International Light Technologies (ILT)一直在开发满足广泛需求并解决各种挑战的产品和解决方案。ILT将照明和光测量专业知识相结合，为客户提供出色的产品和服务。
ILT拥有半个多世纪的经验，与各种类型和规模的公司以及广泛的行业合作，提供解决棘手障碍的产品和解决方案。ILT在电气、光学、机械、质量和制造工程领域雇佣了一支技能高超的专家团队。
ILT提供一系列光测量产品和设备，包括光度计、辐射计、光谱光度计和光谱辐射计，适用于紫外线、可见光和红外测量。我们还提供配套配件，包括探测器、滤波器、输入光学器件、积分球和校准。我们的产品以承受从水下应用到直接暴露在高水平紫外线下，再到持续使用所需的许多苛刻应用。
在UV固化生产过程中，制程监测与验证至关重要。系统性能的过度偏差可能导致严重后果，从产品寿命缩短到功能完全失效。为确保最高品质、降低故障率，众多企业已将系统光输出的常规测量纳入标准流程。
您的生产制程是否要求辐射计具备ISO/IEC 17025:2017认证校准资质，且校准数据可追溯至美国国家标准与技术研究院（NIST）？医疗、汽车、航空航天等行业，通常会强制要求所用产品及零部件满足这一校准标准。
您的固化制程属于传送带式、烘箱式、腔体式还是大面积照射式？此类制程通常要求测量仪本体（而非仅传感器）暴露于紫外光下。因此，仪器必须能耐受高强度的UV照射及伴随的温度升高。应选择配备铝合金等抗UV外壳的型号。塑料外壳及裸露显示屏幕的仪器，无法在UV灯下穿行或置于固化腔内工作。
确定上述两项核心需求后，你就可以着手对比不同紫外光辐照计的功能与优势，进而选出最适配自身应用场景的产品。目前，光起始剂与紫外光源的种类繁多，导致开发通用型测量系统颇具挑战。此外，产业内尚未建立统一标准，例如应测量哪些波长、如何加权光谱，以及系统应在何种波长下进行校正。因此，不同制造商的测量系统设计差异显著，使用者在选型时常感困惑。
面对参数差异如此大的情况，该如何挑选最适合的紫外固化辐照计？关键在于识别并理解那些对确保固化品质至关重要的仪器特性。以下为光测量系统领域常见术语及其基本定义，供您参考：
紫外光辐照计通常也被称为辐射计、光强计或照度计，是一种可测量电磁波谱特定波段（即波长）内光功率绝对值（经校准）的仪器。波长或光谱通常以纳米（nm）表示。在固化应用中，通常将200–450 nm范围定义为紫外光区。需说明的是，其中 380–450 nm 波段（蓝紫光）实际为人眼可见，但在固化领域仍习惯归类于紫外光范畴。
要让辐射计的测量波段与紫外光谱精准匹配，是一项具有挑战性的工作。这主要是因为在中紫外波段内，能够同时满足低吸收率、物理性质稳定，且可承受长时间高强度照射的传感器与滤光片材料选择有限。
理想的紫外光传感器应在目标固化波段内具备平坦且均匀的响应，并能完全屏蔽其他无关波长。然而，大多数紫外传感器在该波段内的灵敏度不仅较低，而且波动明显。因此，确保辐照计的波长选择正确，本身就需要仔细考量。正确选择波长的步骤如下：
确定光源发射范围：首先厘清您的紫外灯或光源所发射的波长。识别有效固化波段：这一步更为关键，需要明确在这些发射波长中，哪些是实际对固化生效的波段。光起始剂对紫外光的响应与其吸收特性直接相关，具有高度的波长选择性。要实现有效固化，光源的发射波长必须匹配光起始剂的吸收峰值（依具体产品，通常在200-450 nm之间）。短波长常用于表面快速固化，以提升生产效率；而长波长穿透力更强，适用于需要深度固化的较厚材料。与光起始剂类似，紫外光传感器也具有固定的光谱响应。因此，选择的测量系统必须同时匹配光源的光谱输出与光起始剂的光谱响应。
固化制程主要有两个测量单位：辐照度（单位W/cm²）与剂量/曝光量（单位J/cm²）。所选UV测量仪需同时满足两者的量程要求。
辐照度指单位面积接收的光功率，常称为「UV强度」。较高的强度对于较厚基材的深层固化尤为重要。若需关注固化深度，通常会测量较长波长，因其穿透力更强。辐照度数值可用不同前缀表示，例如 1.2 mW/cm² 亦可写作 0.0012 W/cm²、1.2e-3 W/cm² 或 1200 µW/cm²。
剂量（亦称曝光量）：指单位面积在特定时间内接收的累积光能量，单位为 J/cm²，数值表达方式与辐照度相同（可使用毫、微等前缀或科学记数法）。剂量是辐照度对时间的积分（计算公式：W/cm² × 秒），常称为累积辐照度。 此参数是评估各类光源、光起始剂及测量系统的关键指标，能综合反映输送带速度、对位、距离等变化带来的强度波动，并透过单一数值验证制程是否提供足够的总辐射能量。当灯具随使用时间强度衰减时，通过同步监测峰值辐照度与总剂量，可相应延长曝光时间以维持固化效果，从而延长灯具寿命，降低更换成本。动态范围：通常以 W/cm² 表示。若仪器标注范围为 1 mW/cm² 至 20 W/cm²，其可测最小剂量为 1 mJ/cm²（1 mW/cm² × 1 秒）。最大剂量取决于仪器的最长积分时间：例如若最长积分 30 秒且最大辐照度为 20 W/cm²，则最大可测剂量为 600 J/cm²。分辨率：指仪器显示器可显示的小数位数。例如最低测量值为 5 mW/cm² 的仪器常显示两位小数（如 5.00 mW/cm²）。需注意，在最低量程测量时，因信号可能低于有效范围并受噪声影响，所示分辨率未必反映真实精度；但在较高读数（如 5.12 W/cm²）时，小数部分通常准确可靠。
空间响应（余弦响应）是导致不同UV测量系统之间常见的误差来源。理想传感器应符合余弦定律，通过光学设计使光线均匀漫射，确保在不同位置接收的光量一致。平面漫射视窗仅能在有限角度内实现校正，大角度时响应急剧下降。
在采用反射器或高反射表面的应用中，测量系统具备优良的余弦响应至关重要，否则反射光将被漏测，导致读数失真。积分球可近乎完美地实现校正，但通常体积较大，难以适配实际测量平面。因此，针对高反射环境选择测量仪时，确认其余弦响应性能与选择光谱范围同等重要。ILT800 CureRight 辐射计通过内置微型积分球与 90° 光路转折设计，在紧凑结构中实现了近乎理想的余弦角度响应。如图3所示：未经校正的传感器视野较窄，会遗漏反射光（左）；校正后的传感器则依余弦定律接收光线，更真实地模拟产品在固化环境中的受光状态。（参见上侧示意图）。
除上述核心参数外，选择紫外光辐照计时还可关注以下功能。这些功能并非所有场景的必需项，但在进行成本效益对比时，值得纳入考量：
数据存储与比对：建立辐照度低于设定值时自动延长曝光时间的标准程序，并在低于维护阈值时提示检修。存储历史数据有助于快速排查光源系统或仪器本身的异常，便于与供应商共享资料、协同分析。
温度监测：传感器受热时易出现读数漂移。监测温度有助于在热态测试或环境温度波动时确保测量准确性，亦能作为基材过热的预警指标。
制程曲线分析功能：此功能以图形化方式呈现辐照度随时间的变化趋势。对于多灯系统的故障诊断特别有效——只需单次测试即可同步检测所有灯具，并能分别显示每个灯具/反射器组件的状态，无需逐个单独检测。这让使用者能快速直观地评估光源稳定性、确定最佳预热时间，并完成故障排查作业。部分系统不仅能储存基准曲线，还支持数据分析（例如将当前量测值与储存的基准线进行比对）。
某些型号需将数据导出至电子表格或透过专用界面检视曲线图，而部分供应商会将此功能列为付费选配，亦有厂商将其列为标准配置。
ILT全新推出的CureRight辐射计系列，已将数据存储、温度监测与曲线分析功能列为标准配置，无需额外付费。
产品特点
高效分析：数据清晰直观，可快速定位问题标配曲线分析：支持实时图形化显示高速采样：每秒 3000 次读取长时积分：最长可持续积分 10 分钟光源兼容：适用于脉冲与连续光源大容量存储：可存储及调用多达 1000 条曲线线性响应：无需手动切换量程温度测量：内置温度监测功能低电量提示：具备电池电量提醒美国制造：品质可靠认证校正：随机附带 ISO17025 认可校正证书客制服务：欢迎客制化及 OEM 咨询多向测量：支持水平、垂直、向上、向下等多方向测量宽广量程：单一型号涵盖 4.5 个数量级，自动换档，测量范围自 mW/cm² 至 40 W/cm²；
国际照明技术公司（ILT）在光测量系统的研发与制造领域拥有超过 50 年经验。公司旗下丰富的辐照计产品线，可满足包括紫外光固化在内的多种紫外光测量应用需求。所有光测量系统均可根据客户的具体需求进行定制化调整。此外，ILT 还拥有 ISO 17025 认证校准实验室，所有出厂辐照计均配备 ISO 17025 认证校准证书。
此外，ILT 还拥有 ISO 17025 认证校准实验室，所有出厂辐照计均配备 ISO 17025 认证校准证书。
