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【企业报告】前道设备|中科飞测(688361)深度研究报告:国产半导体检测与量测的“智能天眼”

   日期:2026-01-05 09:31:54     来源:网络整理    作者:本站编辑    评论:0    
【企业报告】前道设备|中科飞测(688361)深度研究报告:国产半导体检测与量测的“智能天眼”

在芯片制造的复杂流程中,确保每一步工艺都完美无瑕,比事后发现缺陷更为关键。如同为高速运转的生产线配备“火眼金睛”和“精密尺子”,实时监控每一片晶圆的“健康状况”。深圳中科飞测科技股份有限公司,正是中国在半导体质量控制核心环节——检测与量测设备领域的领军企业。

一、整体概况/基本资料

深圳中科飞测科技股份有限公司成立于2014年,总部位于深圳,是一家专注于半导体质量控制设备的研发、生产和销售的高新技术企业。公司产品涵盖无图形晶圆缺陷检测、图形晶圆缺陷检测、三维形貌量测以及薄膜膜厚量测等关键环节,是国内少数在高端检测与量测设备领域实现系列化突破的企业。中科飞测于2023年在上海证券交易所科创板上市。

项目
内容
公司名称
深圳中科飞测科技股份有限公司
股票代码
688361.SH
法人代表
陈鲁
成立时间
2014年12月
总部地点
广东省深圳市
业务范围
半导体质量控制设备的研发、生产、销售及技术服务。
核心产品
无图形/图形晶圆缺陷检测设备、三维形貌量测设备、薄膜膜厚量测设备。
官方网站

https://www.skyverse.cn/

二、公司团队及管理团队

公司核心团队拥有深厚的技术背景和海外产业经验。

职务

姓名

毕业院校

简要履历

董事长、总经理

陈鲁

,1977年生,中国国籍,拥有香港永久居留权,毕业于中国科学技术大学少年班,物理学专业学士学位;美国布朗大学物理学专业,博士研究生学位。

200311月至200510,Rudolph Technologies(现创新科技)系统科学家;200511月至20102,任科磊半导体资深科学家;20103月至20168,任中科院微电子所研究员、博士生导师;201412月至20175,任公司董事兼总经理;20175月至202210,任公司董事长兼总经理;202210月至20236,任公司董事长;20236月至今,任公司董事长兼总经理。

战略副总裁

哈承姝

,1977年生,中国国籍,毕业于耶鲁大学国际和发展经济学专业,硕士研究生学位;美国华盛顿大学职业法律专业,博士研究生学位。

200710月至20112,任德勤会计师事务所(美国)高级税务分析师;20116月至20165,任金沙江创业投资(加州)管理有限公司经理;201512月至20165,任天成国际集团控股有限公司Fice   Director;20165月至20198,任公司副总裁;20198月至202012,任公司董事兼副总裁;202012月至202210,任公司董事兼副总经理;202210月至20236,任公司董事兼总经理;20236月至今,任公司董事、战略副总裁。

财务总监

周凡女

,1985年生,中国国籍,无永久境外居留权,毕业于对外经济贸易大学会计学专业,本科学历,中国注册会计师(非执业会员)

20078月至20208,历任普华永道中天会计师事务所(特殊普通合伙)北京分所经理、高级经理;20208月至202012,任公司财务副总裁;202012月至今,任公司财务总监兼董事。

职工代表董事,董事会秘书

古凯男

1993年出生,中国国籍,无永久境外居留权,毕业于英国帝国理工学院光学与光子学专业,硕士研究生学历。

20175月至202012,任公司总经理助理;202012月至今,任公司董事会秘书。20241月至今,任公司董事。

三、创始人介绍

陈鲁博士是中科飞测的创始人和技术总设计师。

1977年,陈鲁出生在天津市的一个高级知识分子家庭,其父陈克复当时是天津轻工业学院(现天津科技大学)的教授(2003年当选为工程院院士),国内制浆造纸工程领域的权威专家。

1977年,陈鲁出生在天津市的一个高级知识分子家庭,其父陈克复当时是天津轻工业学院(现天津科技大学)的教授(2003年当选为工程院院士),国内制浆造纸工程领域的权威专家。

他本科毕业于中国科学技术大学物理学专业,后赴美深造,获得布朗大学物理学博士学位博士毕业后的陈鲁选择了留在美国工作,先后在国际知名检测设备企业鲁道夫技术公司(Rudolph Technologies)和科磊半导体公司(KLA)担任资深科学家,此时的陈鲁,已经是年薪百万美元的“金领一族”。此外,他还在结识了当时正在美国做律师的贵州女孩哈承姝,两人组建起了自己的小家庭。

他的主要成就与创业历程在于:1)瞄准“卡脖子”关键环节回国创业:凭借在国际龙头的顶尖经验,他敏锐地认识到检测与量测设备是国产半导体产业链中最薄弱、最关键的环节之一,毅然回国创立中科飞测。2)实现高端设备系列化突破:带领团队从零开始,攻克了光学设计、高速信号处理、精密算法等一系列难关,成功推出覆盖多道关键工艺的检测与量测设备,打破了国际垄断。3)构建高水平研发体系:聚集了一批海内外顶尖人才,建立了与国际接轨的研发流程和质量体系,奠定了公司持续创新的基础。

2023年10月,陈鲁与哈承姝以55亿元人民币财富共同位列《2023年·胡润百富榜》第1090位。

四、主营业务

公司主营业务高度聚焦于半导体制造的质量控制全流程:

  1. 检测业务:包括无图形晶圆缺陷检测(检测空白硅片)和图形晶圆缺陷检测(检测已刻蚀电路后的晶圆),用于发现颗粒、划痕、图案缺陷等。

  2. 量测业务:包括三维形貌量测(测量电路关键尺寸、侧壁角、台阶高度等)和薄膜膜厚量测(测量各层薄膜的厚度与均匀性)。

  3. 质量控制软件与数据分析服务:为客户提供配套的专业分析软件和智能数据解决方案。

五、核心技术

公司的核心技术体系围绕高灵敏度光学成像、高速信号处理和精密算法:

  • 高分辨率光学系统设计技术:设计并集成明场、暗场、激光散射等多种光学模式,以捕获纳米级缺陷信号。

  • 高速、高精度图像采集与处理技术:在晶圆高速扫描下,实现海量图像数据的实时采集、传输与预处理。

  • 人工智能缺陷识别与分类(ADC)算法:利用深度学习等AI技术,对捕获的海量缺陷图像进行自动识别、分类和根源分析,大幅提升检测效率和准确性。

  • 高精度干涉量测与光谱分析技术:用于三维形貌和薄膜厚度的纳米级精度测量。

六、产品与服务

产品类别
主要产品与服务
无图形晶圆缺陷检测设备SPRUCE系列:用于硅片、化合物半导体衬底等的表面颗粒和缺陷检测。
图形晶圆缺陷检测设备CHERRY系列:用于集成电路制造过程中,图形化晶圆的缺陷检测与监控。
三维形貌量测设备BIRCH系列:用于测量芯片关键尺寸(CD)、套刻精度、台阶高度等三维形貌参数。
薄膜膜厚量测设备WILLOW系列:用于测量氧化硅、氮化硅、光刻胶等各种薄膜的厚度与均匀性。
质量控制软件与服务
提供设备配套的智能数据分析软件(如Clarity®),以及设备维护、工艺优化服务。

七、市场竞争地位/技术优势

中科飞测是国内半导体检测与量测设备领域产品线最全、技术覆盖面最广的龙头企业之一。在无图形晶圆缺陷检测等细分市场,公司已成为国内主流客户的首选国产设备。在技术壁垒更高的图形检测和量测领域,公司已实现从0到1的突破,产品正逐步进入国内一线晶圆厂验证和量产线,是国内该领域国产替代的核心力量。

维度
具体情况
市场份额
国产检测与量测设备市场综合占有率领先,尤其在无图形检测设备市场占据主导地位;在图形检测和量测市场快速突破。
技术优势
拥有检测与量测全系列设备的自主开发能力;核心光学与算法团队背景强大;产品已覆盖28nm及以上技术节点,并向更先进制程推进。
主要竞争对手国际巨头:科磊半导体(KLA,全球绝对垄断,市占率超50%)、应用材料、日立高新。国内对手精测电子(部分产品线)、上海睿励(量测)等。
行业地位市场地位:国产半导体质量控制设备综合龙头技术话语权代表国内检测量测设备的最高技术水平,是打破国际垄断的关键参与者。生态影响力其设备是保障芯片良率、推动制造工艺进步的“眼睛”和“标尺”,对构建自主可控的芯片制造体系具有不可替代的战略价值。

八、商业模式

公司采用 “研发驱动、由易到难、解决方案导向” 的市场开拓模式。

  • 高强度研发构建平台:持续投入巨资进行底层光学、算法和系统集成研发,构建可扩展的技术平台。

  • 市场切入路径清晰:先从技术门槛相对较低、国产需求迫切的无图形检测市场切入并确立优势,再向技术难度呈指数级增长的图形检测和量测市场攻坚。

  • 提供整体质量管控方案:不仅销售单台设备,更致力于为客户提供从检测、量测到数据分析的全流程质量控制解决方案,提升客户粘性。

九、公司生态

中科飞测的生态位置处于芯片制造良率控制的核心环节:

  • 上游:与高精度光学镜头、激光器、高速相机、传感器等核心部件供应商合作。

  • 下游:客户覆盖中芯国际、华虹集团、长江存储、长鑫存储等国内所有主流集成电路制造企业,以及立昂微、沪硅产业等半导体材料企业。

  • 产学研合作:与中国科学院等相关研究机构保持技术交流与合作。

  • 战略投资:获得国家集成电路产业投资基金(大基金)等战略股东的加持。

十、发展历程

时间
重大事件
2014年
公司成立,由海归技术团队创立。
2016年
首台无图形晶圆缺陷检测设备研制成功。
2018年
首台三维形貌量测设备研制成功,进入量测领域。
2020年
首台图形晶圆缺陷检测设备研制成功,攻克更高壁垒市场。
2022年
多款设备在多家国内领先晶圆厂实现量产应用。
2023年
在上海证券交易所科创板上市。
2024年至今
产品在先进逻辑和存储芯片产线验证加速,订单持续增长。

十一、行业发展

发展趋势与前景

  1. 制程进步驱动检测量测需求爆发:芯片进入纳米级,缺陷容忍度极低,工艺步骤大幅增加,使得在线检测与量测的频率和精度要求呈指数级提升,该环节在设备投资中的占比持续提高。

  2. 国产化替代进入“深水区”:检测与量测是半导体设备中国产化率最低的领域之一,技术壁垒极高。随着供应链安全需求日益迫切,该环节已成为国产替代最重要、最紧迫的战场之一,市场空间巨大。

  3. AI与大数据深度融入:利用人工智能进行缺陷自动分类、根因分析和预测性维护,已成为提升质量控制效率和智能化水平的核心方向。

  4. 新兴技术拓宽应用场景:第三代半导体(SiC、GaN)、先进封装(Chiplet)等新领域,对特色化的检测量测方案提出了新需求。

挑战

  1. 与国际巨头的悬殊差距:科磊(KLA)在该领域建立了近乎垄断的技术、专利和市场生态壁垒,国产设备在最高端市场(如7nm以下图形检测)追赶难度极大。

  2. 极高的客户认证壁垒:检测量测设备与产线良率直接挂钩,客户导入极其谨慎,验证周期漫长,且替换成本高。

  3. 持续高强度的研发投入:为跟随甚至超前于制程发展,需要持续进行巨额研发投入,对公司资金实力和技术判断力是严峻考验。

十二、企业类型归纳

分类角度
具体类型描述
1. 技术属性高精密光学、高速计算与人工智能算法集成型
企业,属于技术密集型高端装备制造业。
2. 产品类型归属半导体质量控制(检测/量测)设备
制造商,是芯片制造的“工业医生”和“质量检察官”。
3. 与相关芯片企业对比区别于芯片制造企业,中科飞测是为芯片制造提供“质量监控”与“工艺标定”核心工具的“赋能者”和“守门员”。
4. 行业归类依据
证监会行业分类:专用设备制造业(C35);属于半导体设备板块中的关键细分赛道。
5. 核心技术与产品示例技术:多模式光学成像技术、AI缺陷识别算法。产品SPRUCE系列无图形检测设备、BIRCH系列三维形貌量测设备。

十三、景气度周期分析

中科飞测的景气度与半导体资本开支周期紧密相连,但质量控制设备的强必需品属性极低的国产化基数,使其具备穿越周期的成长弹性:

  • 半导体设备投资周期:随全球及中国晶圆厂建设波动。处于国产产能扩张的景气阶段。

  • 检测量测设备占比提升周期:这是一个结构性趋势。随着制程进步,检测与量测的投资占比已从历史上的约11%提升至约13%,且仍在上升,其增速长期高于半导体设备整体增速

  • 国产设备渗透率从“零”起步的爆发周期:在检测量测这一国产化“硬骨头”领域,替代率几乎从零开始,任何微小的份额突破都意味着巨大的业绩弹性,这是一个爆发性强、持续性的成长周期

  • 综合判断:公司同时受益于行业增长环节价值提升从零到一的国产替代三重强劲动力。尽管行业总投资存在周期性,但公司在国内市场的稀缺龙头地位巨大的国产化空间,使其景气度呈现出 “高成长性显著强于周期性” 的特征。当前正处于 “国产替代加速突破的关键拐点期”,成长能见度较高。

一张表看懂上市企业:中科飞测(688361)

维度
描述
公司名称
深圳中科飞测科技股份有限公司
成立时间
2014年12月
总部地点
广东省深圳市
上市情况
2023年于上交所科创板上市 (688361.SH)
主营业务
半导体质量控制设备(检测与量测)的研发、生产与销售。
核心技术
高精密光学检测技术、三维形貌量测技术、AI缺陷分析算法。
主要产品
无图形/图形缺陷检测设备、三维形貌量测设备、膜厚量测设备。
市场份额
国产检测与量测设备市场综合占有率领先。
主要竞争对手
科磊(KLA,全球垄断)、应用材料(国际);精测电子(国内)。
行业地位
国产半导体检测与量测设备综合龙头。
商业模式
以全系列技术平台为基础,提供质量控制解决方案的研发销售模式。
发展历程
2014年海归团队创立 → 2016年首台设备成功 → 2018/2020年突破量测与图形检测 → 2023年科创板上市。
企业类型
高端光学与算法集成的半导体质量控制设备制造商。
官方网站

https://www.skyverse.cn/

知识科普:检测(Inspection)与量测(Metrology)——芯片制造的“火眼金睛”与“纳米标尺”

在芯片工厂中,检测(Inspection) 和 量测(Metrology) 是保障良率的两大核心质量控制手段,功能不同但相辅相成。

1. 检测:寻找“坏人”(缺陷)

  • 任务:如同安检扫描,目的是发现晶圆表面的异常,即“缺陷”。包括微小的颗粒污染物图案畸变(桥接、断线)、划痕等。

  • 工作原理:主要利用光学或电子束成像。光学检测速度快,适用于大面积筛查;电子束检测分辨率极高,能看清最细微的缺陷,但速度较慢,常用于对光学发现的疑似缺陷进行复查。

  • 关键挑战:在每小时处理上百片晶圆的速度下,从海量图像中快速、准确地识别出纳米级的缺陷,如同“大海捞针”。这高度依赖先进的光学系统和人工智能(AI)识别算法。

2. 量测:核对“尺寸”(参数)

  • 任务:如同精密质检,目的是测量特定的物理参数,确保其符合设计规格。包括薄膜厚度关键尺寸(CD,如线条宽度)套刻精度(上下层图案对准程度)、三维形貌(如台阶高度、侧壁角)等。

  • 工作原理:多采用光谱椭偏(测膜厚)、散射仪原子力显微镜(AFM)(测三维形貌)等技术。

  • 关键挑战:实现纳米级甚至亚纳米级的测量精度和重复性。例如,3nm制程的线宽误差容忍度极小,量测设备的任何微小波动都可能导致误判。

中科飞测等公司攻克的就是如何让这些“眼睛”和“尺子”看得更清、测得更准、速度更快,从而在缺陷导致大批量废片前及时拦截,在参数漂移时迅速纠正,是芯片实现高良率、高性能制造的守护神。


参考资料

  1. 深圳中科飞测科技股份有限公司年度报告(2023年)

  2. 中科飞测招股说明书

  3. 中科飞测(SKYVERSE)官方网站、产品与技术介绍

  4. 东方财富网中科飞测(688361)公司资料、高管介绍页面

  5. 上海证券交易所科创板公告及互动易平台信息

  6. 行业研究报告:SEMI全球半导体设备市场报告;各券商关于半导体设备及检测量测细分市场的深度研究报告。

  7. 关于半导体检测与量测技术原理的公开技术文献与行业资料。

免责声明:本报告基于公开信息整理,内容仅供学习参考,不构成任何投资建议。

 
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