在电子测量领域，同惠 TH2830 系列高频 LCR 测试仪凭借出色的性能，成为精密阻抗测量的得力工具。它主要通过先进的硬件设计、精准的软件算法、严格的测试环境控制和高效的校准技术来实现精密阻抗测量。
先进的硬件设计
宽频信号源：该系列测试仪配备了可覆盖 50Hz 至 100kHz 频率范围的宽频信号源，这一特性使它能够适应多种电子元件在不同频段下的测试需求。例如，对于低频滤波电容和高频电感，都能提供合适的测试频率。信号源输出阻抗可选 30Ω 或 100Ω，以此适配不同的测试环境，确保信号传输的稳定性和准确性。
高精度 ADC：采用 24 位 ΔΣ 型 ADC，拥有 120dB 的动态范围。这种高精度的模数转换器能够增强对微弱信号的检测能力，极大地降低量化误差。在测量低感值电感（如 μH 级）或高 Q 值电感时，可有效避免因分辨率不足导致的误差，从而提高测量的精度和可靠性。
低寄生参数测试夹具：高频测试中，寄生参数对测量结果影响显著。TH2830 系列优先采用四端开尔文（4TOS）测试夹具，该夹具通过独立的电流 / 电压路径，能够有效消除线缆及接触电阻。对于 1MHz 以上的高频场景，建议使用低寄生电感（<0.2nH）的 SMD 夹具，以确保高频电容测量的精度，减少寄生参数带来的测量偏差。
电磁屏蔽与接地设计：仪器采用双层屏蔽机箱，内层为铜箔，外层为穆金属，能有效抑制外界电磁干扰，如工频干扰和射频干扰。同时，优化接地系统，将仪器地、信号地、电源地分开布线，减少地线环路干扰，为精密测量创造稳定的内部环境。
精准的软件算法
数字滤波技术：引入 IIR/FIR 滤波器，专门用于滤除工频谐波干扰，确保测量信号的纯净度。在复杂的电磁环境中，这些滤波器能够有效去除电网带来的干扰信号，使测量结果更加准确。
误差补偿算法：结合内置温度传感器，建立三维误差补偿模型，实时修正因温度漂移导致的元件参数变化。例如，当环境温度发生变化时，该模型可对电感、电容等元件的参数进行动态调整，从而将温度对测量结果的影响控制在极小范围内。通过机器学习算法对历史测量数据进行分析，能够动态调整激励电平与积分时间，以优化不同阻抗值测量时的信噪比，进一步提高测量精度。 #LCR测试仪
先进的硬件设计
宽频信号源：该系列测试仪配备了可覆盖 50Hz 至 100kHz 频率范围的宽频信号源，这一特性使它能够适应多种电子元件在不同频段下的测试需求。例如，对于低频滤波电容和高频电感，都能提供合适的测试频率。信号源输出阻抗可选 30Ω 或 100Ω，以此适配不同的测试环境，确保信号传输的稳定性和准确性。
高精度 ADC：采用 24 位 ΔΣ 型 ADC，拥有 120dB 的动态范围。这种高精度的模数转换器能够增强对微弱信号的检测能力，极大地降低量化误差。在测量低感值电感（如 μH 级）或高 Q 值电感时，可有效避免因分辨率不足导致的误差，从而提高测量的精度和可靠性。
低寄生参数测试夹具：高频测试中，寄生参数对测量结果影响显著。TH2830 系列优先采用四端开尔文（4TOS）测试夹具，该夹具通过独立的电流 / 电压路径，能够有效消除线缆及接触电阻。对于 1MHz 以上的高频场景，建议使用低寄生电感（<0.2nH）的 SMD 夹具，以确保高频电容测量的精度，减少寄生参数带来的测量偏差。
电磁屏蔽与接地设计：仪器采用双层屏蔽机箱，内层为铜箔，外层为穆金属，能有效抑制外界电磁干扰，如工频干扰和射频干扰。同时，优化接地系统，将仪器地、信号地、电源地分开布线，减少地线环路干扰，为精密测量创造稳定的内部环境。
精准的软件算法
数字滤波技术：引入 IIR/FIR 滤波器，专门用于滤除工频谐波干扰，确保测量信号的纯净度。在复杂的电磁环境中，这些滤波器能够有效去除电网带来的干扰信号，使测量结果更加准确。
误差补偿算法：结合内置温度传感器，建立三维误差补偿模型，实时修正因温度漂移导致的元件参数变化。例如，当环境温度发生变化时，该模型可对电感、电容等元件的参数进行动态调整，从而将温度对测量结果的影响控制在极小范围内。通过机器学习算法对历史测量数据进行分析，能够动态调整激励电平与积分时间，以优化不同阻抗值测量时的信噪比，进一步提高测量精度。 #LCR测试仪
