在材料研究与电子元件制造领域，精准掌握材料的介电特性至关重要。同惠 TH2851 系列高频 LCR 测试仪凭借其卓越的性能，成为实现材料介电特性精准测量的有力工具。它主要通过先进的硬件架构、精确的测试方法、智能的软件算法和严格的校准流程来达成这一目标。
先进的硬件架构
宽频信号源
TH2851 系列配备了频率范围为 10Hz 至 130MHz 的宽频信号源，这使得它能够在不同频段下对材料的介电特性进行全面分析。对于低频响应明显的材料，可选用较低频率进行测试，以获取其基础介电参数；而对于高频应用的材料，如高频电路板的基板材料，高频段的测试能精准捕捉其在实际工作环境下的介电性能变化。信号源输出阻抗具备灵活性，可在 30Ω 或 100Ω 间切换，从而适配不同测试环境，确保信号传输稳定且精准，减少因阻抗不匹配导致的信号衰减或畸变，为准确测量材料介电特性奠定坚实基础。
高分辨率 ADC
仪器采用的 24 位 ΔΣ 型 ADC，拥有高达 120dB 的动态范围，这一特性显著增强了对微弱信号的检测能力。在测量低介电常数或低损耗材料时，信号往往较为微弱，普通分辨率的 ADC 可能无法准确捕捉信号细节，导致测量误差增大。而 TH2851 系列的高分辨率 ADC 能够有效降低量化误差，将信号的细微变化精确转换为数字量，为后续的数据分析提供高精度的数据基础，从而提升对低介电常数材料介电特性测量的准确性和可靠性。
低寄生参数测试夹具
在高频测试中，寄生参数对测量结果的干扰不容忽视。TH2851 系列优先采用四端开尔文（4TOS）测试夹具，这种夹具通过独立的电流 / 电压路径设计，能够有效消除线缆及接触电阻带来的影响。当测量高频下的介电材料时，寄生电感和电容可能会与材料本身的介电特性相互叠加，造成测量结果偏差。使用低寄生电感（<0.2nH）的 SMD 夹具，可显著减少此类干扰，尤其在 1MHz 以上的高频场景中，能确保高频电容测量的精度，使测量结果更真实地反映材料的固有介电特性。
电磁屏蔽与接地设计
为营造稳定的测试环境，仪器采用双层屏蔽机箱，内层铜箔与外层穆金属的组合能有效抑制外界电磁干扰，包括常见的工频干扰和复杂的射频干扰。 #LCR测试仪
先进的硬件架构
宽频信号源
TH2851 系列配备了频率范围为 10Hz 至 130MHz 的宽频信号源，这使得它能够在不同频段下对材料的介电特性进行全面分析。对于低频响应明显的材料，可选用较低频率进行测试，以获取其基础介电参数；而对于高频应用的材料，如高频电路板的基板材料，高频段的测试能精准捕捉其在实际工作环境下的介电性能变化。信号源输出阻抗具备灵活性，可在 30Ω 或 100Ω 间切换，从而适配不同测试环境，确保信号传输稳定且精准，减少因阻抗不匹配导致的信号衰减或畸变，为准确测量材料介电特性奠定坚实基础。
高分辨率 ADC
仪器采用的 24 位 ΔΣ 型 ADC，拥有高达 120dB 的动态范围，这一特性显著增强了对微弱信号的检测能力。在测量低介电常数或低损耗材料时，信号往往较为微弱，普通分辨率的 ADC 可能无法准确捕捉信号细节，导致测量误差增大。而 TH2851 系列的高分辨率 ADC 能够有效降低量化误差，将信号的细微变化精确转换为数字量，为后续的数据分析提供高精度的数据基础，从而提升对低介电常数材料介电特性测量的准确性和可靠性。
低寄生参数测试夹具
在高频测试中，寄生参数对测量结果的干扰不容忽视。TH2851 系列优先采用四端开尔文（4TOS）测试夹具，这种夹具通过独立的电流 / 电压路径设计，能够有效消除线缆及接触电阻带来的影响。当测量高频下的介电材料时，寄生电感和电容可能会与材料本身的介电特性相互叠加，造成测量结果偏差。使用低寄生电感（<0.2nH）的 SMD 夹具，可显著减少此类干扰，尤其在 1MHz 以上的高频场景中，能确保高频电容测量的精度，使测量结果更真实地反映材料的固有介电特性。
电磁屏蔽与接地设计
为营造稳定的测试环境，仪器采用双层屏蔽机箱，内层铜箔与外层穆金属的组合能有效抑制外界电磁干扰，包括常见的工频干扰和复杂的射频干扰。 #LCR测试仪
