白皮书⏬面向Multi-Die设计的硬件辅助验证

Multi-Die 设计通过引入跨芯粒交互、软件驱动行为以及系统级性能依赖关系，显著提升了验证复杂度。硬件辅助验证（HAV）通过支持超长时间运行的工作负载以及突破传统仿真能力限制的完整系统验证，有效应对这些挑战。了解如何更早发现细微的系统级问题，并在真实工作负载条件下验证系统性能。这种方法有助于加速软件启动（Bring-up）、降低设计风险，并缩短产品上市时间。下载本白皮书，了解如何为下一代 Multi-Die 设计构建可扩展的验证体系。

您将了解到：

✨ Multi-Die 设计为何需要突破传统 IP 验证，采用面向系统级、以工作负载驱动的验证方法。

✨ 硬件辅助验证（HAV）如何支持数十亿周期级运行和真实工作负载执行，从而发现边界场景下的失效问题。

✨ 模块化 HAV 方法学如何提升验证的可扩展性、复用性以及周转效率。

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