赛默飞 Niton XL2 Plus 手持式 XRF 分析仪是一款专为工业分析设计的高性能设备，具有快速、准确、多功能等特点。以下是其详细介绍：
主要特点
分析性能卓越：配备 2W X 射线管、动态电流调节技术和新一代硅漂移探测器（SDD），可提供最佳灵敏度，实现低检测限和快速分析。采用智能基本参数法（FP）校正样品基质效应，确保分析结果准确可靠，元素分析范围为 Mg-U。
耐用性强：具有 IP54 防护等级，密闭防潮防尘，能在 - 10℃-50℃的温度和相对湿度 0％-80％（无冷凝）的环境中稳定运行，且配备 Detector ProGuard 保护装置，可降低探测器被穿刺的风险。
操作便捷：简洁的触摸屏界面，支持触摸或可选方向键进行快速导航。热插拔电池设计可在不关机的情况下更换电池，保证仪器持续运行。集成微型摄像头和鼻锥防护准直装置，可帮助操作员精确定位测量点。
数据处理与传输方便：支持 USB、蓝牙和 RS-232 串行通信，可方便地将数据传输到计算机或其他设备。配备 Niton 数据传输（NDT）PC 软件，64MB 内部系统内存和 128MB 内部用户存储，可存储大约 10,000 个光谱读数。
技术参数
尺寸重量：尺寸为 25.6cm×27.5cm×10cm，重量为 1.53kg（含电池）。
X 射线源：Ag 阳极（6-45kV，1-200μA，最大 2W），动态可调电流。
光斑尺寸：8mm 准直。
校准模式：包括普通金属、贵金属、涂料、采矿、土壤、电子合金、塑料、涂料中的工业铅、涂料中的铅等多种校准模式。
显示：固定角度、颜色、电阻式触摸屏显示。
电源：7.4V 锂离子电池，或 12V DC，3A，36W 电源。
应用领域
金属与合金分析：可用于验证生产中使用的金属和合金，在质量保证检测中正确鉴别材料，在废料回收操作中进行自动分拣。
涂层厚度测量：能测量单个元件层的涂层厚度。
贵金属分析：适用于金银和珠宝的贵金属分析。
矿业与地球化学分析：可用于矿石贸易和等级控制的地球化学分析。
环境与安全检测：能进行污染土壤的现场重金属筛查，工业设施漆层检验中的铅检测，以及消费品中的有害物质筛查。
#赛默飞 #金属分析仪 #实验室仪器 #实验室设备
主要特点
分析性能卓越：配备 2W X 射线管、动态电流调节技术和新一代硅漂移探测器（SDD），可提供最佳灵敏度，实现低检测限和快速分析。采用智能基本参数法（FP）校正样品基质效应，确保分析结果准确可靠，元素分析范围为 Mg-U。
耐用性强：具有 IP54 防护等级，密闭防潮防尘，能在 - 10℃-50℃的温度和相对湿度 0％-80％（无冷凝）的环境中稳定运行，且配备 Detector ProGuard 保护装置，可降低探测器被穿刺的风险。
操作便捷：简洁的触摸屏界面，支持触摸或可选方向键进行快速导航。热插拔电池设计可在不关机的情况下更换电池，保证仪器持续运行。集成微型摄像头和鼻锥防护准直装置，可帮助操作员精确定位测量点。
数据处理与传输方便：支持 USB、蓝牙和 RS-232 串行通信，可方便地将数据传输到计算机或其他设备。配备 Niton 数据传输（NDT）PC 软件，64MB 内部系统内存和 128MB 内部用户存储，可存储大约 10,000 个光谱读数。
技术参数
尺寸重量：尺寸为 25.6cm×27.5cm×10cm，重量为 1.53kg（含电池）。
X 射线源：Ag 阳极（6-45kV，1-200μA，最大 2W），动态可调电流。
光斑尺寸：8mm 准直。
校准模式：包括普通金属、贵金属、涂料、采矿、土壤、电子合金、塑料、涂料中的工业铅、涂料中的铅等多种校准模式。
显示：固定角度、颜色、电阻式触摸屏显示。
电源：7.4V 锂离子电池，或 12V DC，3A，36W 电源。
应用领域
金属与合金分析：可用于验证生产中使用的金属和合金，在质量保证检测中正确鉴别材料，在废料回收操作中进行自动分拣。
涂层厚度测量：能测量单个元件层的涂层厚度。
贵金属分析：适用于金银和珠宝的贵金属分析。
矿业与地球化学分析：可用于矿石贸易和等级控制的地球化学分析。
环境与安全检测：能进行污染土壤的现场重金属筛查，工业设施漆层检验中的铅检测，以及消费品中的有害物质筛查。
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