透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, TEM）的工作原理是，在一个超高真空系统中，电子枪发射出来的高能电子束穿过被研究的样品，经由电子透镜将穿过样品的电子束信息进行聚焦放大，最终在荧光屏上显示出高度放大的物象。
TEM 常用来表征石墨烯的层数、单晶畴区分布，观察原子尺度的掺杂、缺陷、表面污染、晶界、边缘等。
(a) 低倍 TEM 图像显示生长于蕾丝碳涂层网格上的 CVD 石墨烯薄膜。插图展示了石墨烯薄膜的电子衍射图案。
(b) 低倍 TEM 图像显示不同厚度区域（黑色箭头标识）之间的界面。尽管光学图像呈现高色彩对比度，但透射电子显微镜图像的低对比度表明厚度差异仅为几层石墨烯。
（c-f）高倍 TEM 图像分别显示单层（c）、三层（d）、四层（e）和八层（f）石墨烯构成的薄膜区域边缘。薄膜边缘的折叠结构使截面观察成为可能。面内晶格干涉条纹表明石墨烯层存在局部堆叠序列。
#石墨烯薄膜 #原子沉积工程 #CVD #TEM
TEM 常用来表征石墨烯的层数、单晶畴区分布，观察原子尺度的掺杂、缺陷、表面污染、晶界、边缘等。
(a) 低倍 TEM 图像显示生长于蕾丝碳涂层网格上的 CVD 石墨烯薄膜。插图展示了石墨烯薄膜的电子衍射图案。
(b) 低倍 TEM 图像显示不同厚度区域（黑色箭头标识）之间的界面。尽管光学图像呈现高色彩对比度，但透射电子显微镜图像的低对比度表明厚度差异仅为几层石墨烯。
（c-f）高倍 TEM 图像分别显示单层（c）、三层（d）、四层（e）和八层（f）石墨烯构成的薄膜区域边缘。薄膜边缘的折叠结构使截面观察成为可能。面内晶格干涉条纹表明石墨烯层存在局部堆叠序列。
#石墨烯薄膜 #原子沉积工程 #CVD #TEM